一种纳米硅基材料中硅含量的测试方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201811279362.3 （22）申请日 2018.10.30

（71）申请人 贝特瑞新材料集团股份有限公司

地址 518106 广东省深圳市光明新区公明办事处西田社区高新技术工业园第8栋

（10）申请公布号 CN111122373A

（43）申请公布日 2020.05.08

（72）发明人 张庆来

（74）专利代理机构 北京品源专利代理有限公司

代理人 巩克栋

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

一种纳米硅基材料中硅含量的测试方法

（57）摘要

本发明提供了一种纳米硅基材料中硅含量

的测试方法，包括以下步骤：1)将纳米硅基材料样品称量后，置于容器中用酸进行加热处理，之后用滤纸过滤，将固体转移至滤纸上得到滤渣；2)将滤纸同滤渣一起转移至耐热容器中，加热至滤纸碳化，之后将耐热容器冷却；3)将耐热容器同加热产物一起在氧化性气氛下进行灼烧，将所述纳米硅基材料样品完全转化为二氧化硅；4)将耐热容器同灼烧产物一起冷却后，进行称量，得

到耐热容器和灼烧产物的总重量；5)不使用纳米硅基材料样品，全程进行空白实验，得到空白实验耐热容器的增重；6)计算所述纳米硅基材料样品中的硅含量。本发明提供的测试方法检测准确，精密度高，操作简便，检测范围广。

法律状态

法律状态公告日

2020-05-08

法律状态信息

公开

法律状态

公开

权利要求说明书

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说明书

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