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专利名称：微型断路器资产寿命预测方法专利类型：发明专利
发明人：杨杰,熊德智,陈奕蕾,刘滢,其他发明人请求不公开姓
名
申请号：CN201610475766.4申请日：20160624公开号：CN1047521A公开日：20170222
摘要：本发明公开了一种微型断路器资产寿命预测方法，包括如下步骤：1)确定资产寿命影响因素变量X，采集数据，i为自然数；2)对所述资产寿命影响因素变量进行主成分分析，确定主成分F，h为自然数；3)根据所述主成分F建立多元线性回归模型；4)计算微型断路器寿命Y的取值区间。本发明通过建立精益化的数学模型、全面量化的指标体系，识别影响微型断路器资产寿命的关键因素，实现微型断路器资产全寿命周期的质量分析和寿命评价，对资产质量进行有效监督。
申请人：武汉理工大学
地址：430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
国籍：CN
代理机构：武汉开元知识产权代理有限公司
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