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一种基于可变磁场及自由电极的半导体特性稳定测量系统[发明专利]

来源:保捱科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:一种基于可变磁场及自由电极的半导体特性稳定测

量系统

专利类型:发明专利

发明人:陈水源,霍冠忠,王可,严蔚胜,黄志高申请号:CN201811375308.9申请日:20181119公开号:CN109507561A公开日:20190322

摘要:本发明公开一种基于可变磁场及自由电极的半导体特性稳定测量系统,其包括磁体变位器、自由样品台、磁体‑分析仪分离模块,所述磁体变位器、自由样品台、磁体‑分析仪分离模块采用PLA塑料与铜金属材料等抗磁材料,使磁体远离测试系统探针,使系统在磁学上与磁体分离,保证磁体控制与样品性质测量的稳定性,弥补了现有半导体参数测量系统无法将磁场、光场一体化的空白。另一方面,磁体变位自由度高,可提供大小、角度、方向连续可调的磁场,可支持实验研究自变量的均匀变化。

申请人:福建师范大学

地址:350108 福建省福州市闽侯县上街镇大学城福建师范大学科技处

国籍:CN

代理机构:福州君诚知识产权代理有限公司

代理人:彭东

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