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基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法[发明专利]

来源:保捱科技网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法专利类型:发明专利

发明人:冯国英,袁寒,李洪儒,崔磊,包忠毅申请号:CN202010030378.1申请日:20200113公开号:CN1111416A公开日:20200522

摘要:本发明提供一种基于特征相位约束的结构光360°三维面形测量方法,属于结构光三维测量领域。本发明所述方法包括标定投影仪‑摄像机系统、采集图像、重建单次测量结果、提取约束点、计算变换参数和统一坐标系六个步骤。本发明所述方法摒弃了传统360°测量方法中对高精度步进电机及附加设计标志物的依赖,通过提取约束点,获取物体或系统在相邻测量间移动的变换参数,以此为依据将多次测量结果统一到同一物体坐标系下;同时,建立了闭合优化环路,根据环路构建残差方程,通过优化该残差方程获取全局最优的变换参数,减少误差累积,最终重建出物体的360°三维点云信息。

申请人:四川大学

地址:610065 四川省成都市武侯区一环路南一段24号

国籍:CN

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