偏光度的测量方法

（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201811165732.0 （22）申请日 2018.10.08

（71）申请人 惠州市华星光电技术有限公司

地址 516006 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区惠风四路78号TCL液晶产业园D

（10）申请公布号 CN109282969A

（43）申请公布日 2019.01.29

栋一楼B区

（72）发明人 陈俊吉

（74）专利代理机构 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)

代理人 黄威

（51）Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

（54）发明名称

偏光度的测量方法

（57）摘要

本发明提供一种偏光度的测量方法，其用

于测量偏振片的偏光度，本发明的优点在于，采用反射式测量方法，不需要将偏振片从模组上取下后再测量偏光度，避免模组被破坏，且避免偏振片受损，影响偏振片的偏光度；另外，本发明偏光度的测量方法能够实现大批量在线监控，可操作性强。

法律状态

法律状态公告日

2019-01-29 2019-01-29 2019-01-29 2019-03-01 2019-03-01 2020-04-03

公开 公开 公开

法律状态信息

公开 公开 公开

法律状态

实质审查的生效 实质审查的生效 授权

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权利要求说明书

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说明书

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