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专利名称：三维信息检测用结构光场光学系统及其方法专利类型：发明专利
发明人：张国伟,尹晓东,田克汉,苑京立,朱庆峰申请号：CN201810020196.9申请日：20180109公开号：CN108051929A公开日：20180518
摘要：本申请公开了一种三维信息检测用结构光场光学系统及其方法。通过设置激光器照射光源、一个衍射光学元件和反射镜系统；所述激光器照射光源发出的激光光源通过所述反射镜系统反射至所述衍射光学元件；所述反射镜系统，包括一片或多片平面镜；所述衍射光学元件，用于将入射激光光源作为照明光场并生成所需光场分布的结构光场。只使用简单几个光学元件，即可实现复杂光学系统的功能，采用反射镜系统能够有效减少系统厚度。本发明的光学技术具备光学结构精炼、机械调节系统简单、光学效率极高、尺寸微型化、成本低廉、易操作等多项优点，其微型结构所实现的三维信息检测结构光场系统处于迫切的需求状态。
申请人：北京驭光科技发展有限公司
地址：100083 北京市海淀区静淑苑路2号四层403B室
国籍：CN
代理机构：北京卓唐知识产权代理有限公司
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